TamperBench: Systematically Stress-Testing LLM Safety Under Fine-Tuning and Tampering

Fuente: arXiv
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Hossain, Saad, Tseng, Tom, Pandey, Punya Syon, Vajpayee, Samanvay, Kowal, Matthew, Nonta, Nayeema, Simko, Samuel, Casper, Stephen, Jin, Zhijing, Pelrine, Kellin, Rambhatla, Sirisha
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2026
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