ArtifactLens: Hundreds of Labels Are Enough for Artifact Detection with VLMs

Fuente: arXiv

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Burgess, James, Abdal, Rameen, Stoddart, Dan, Tulyakov, Sergey, Yeung-Levy, Serena, Wang, Kuan-Chieh Jackson
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2026
Schlagworte:	Computer Vision and Pattern Recognition Artificial Intelligence Machine Learning
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https://arxiv.org/abs/2602.09475