A Transformer-based Model for Rapid Microstructure Inference from Four-Dimensional Scanning Transmission Electron Microscopy Data

Fuente: arXiv
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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Je, Kwanghwi, Kennedy, Ellis R., Kim, Sungin, Yang, Yao, Thiede, Erik H.
Formato: Preprint
Publicado: 2026
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