Quantitative models for excess carrier diffusion and recombination in STEM-EBIC experiments on semiconductor nanostructures

Fuente: arXiv
Gespeichert in:
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Hauptverfasser: Meyer, Tobias, Flathmann, Christoph, Ehrlich, David A., Paap-Peretzki, Patrick, Lindner, Jonas, Jooß, Christian, Seibt, Michael
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2026
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