Depth Completion as Parameter-Efficient Test-Time Adaptation

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Ke, Bingxin, Zhou, Qunjie, Huang, Jiahui, Ren, Xuanchi, Shen, Tianchang, Schindler, Konrad, Leal-Taixé, Laura, Huang, Shengyu
Formato:	Preprint
Publicado:	2026
Materias:	Computer Vision and Pattern Recognition
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Internet

https://arxiv.org/abs/2602.14751