Full-Field Damage Monitoring in Architected Lattices Using In situ Electrical Impedance Tomography

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Deep, Akash, Samore, Andrea, McEwan, Alistair, McBride, Andrew, Kumar, Shanmugam
Formato:	Preprint
Publicado:	2026
Materias:	Emerging Technologies Materials Science
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

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https://arxiv.org/abs/2602.15048