RHEED pattern classification by a convolutional neural network for the growth of chalcogenide thin films and nanostructures

Fuente: arXiv

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Muetzel, Nathan, Luu, Viet, Bey, Sara, Karim, Muhsin Abdul, Yoshimura, Kota, Liu, Xinyu, Gebran, Marwan, Assaf, Badih A.
Format:	Preprint
Publié:	2026
Sujets:	Materials Science
Accès en ligne:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2602.18243