Super-Resolution Structured-Illumination X-Ray Microscopy based on Fourier Decomposition

Fuente: arXiv

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Schwaiger, Stefan, Forster, Lennart, Dierolf, Martin, Pfeiffer, Franz, Günther, Benedikt
Format:	Preprint
Publié:	2026
Sujets:	Optics
Accès en ligne:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2602.18343