Beam-Offset Thermoreflectance with Bayesian Optimization to Measure the Anisotropic Thermal Properties of Semiconductor Superlattices
Fuente:
arXiv
Gespeichert in:
| Hauptverfasser: | , , , , , , , |
|---|---|
| Format: | Preprint |
| Veröffentlicht: |
2026
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