Micrometer-scale displacement and thickness sensing using a single terahertz resonant-tunneling diode

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Yi, Li, Ito, Shota, Tang, Chao, Nishida, Yousuke, Terumoto, Koji, Maeda, Toshihisa, Inose, Yuta, Fujita, Masayuki
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2026
Schlagworte:	Optics Hardware Architecture
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https://arxiv.org/abs/2602.23621