Rummel, B. D., Dhar, S., & Kaplar, R. J. (2026). The completed High-Low method for interface state density analysis in MOS capacitors.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Rummel, Brian D., Sarit Dhar, und Robert J. Kaplar. The Completed High-Low Method for Interface State Density Analysis in MOS Capacitors. 2026.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Rummel, Brian D., et al. The Completed High-Low Method for Interface State Density Analysis in MOS Capacitors. 2026.
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