Buchumschlag

The completed High-Low method for interface state density analysis in MOS capacitors

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Rummel, Brian D., Dhar, Sarit, Kaplar, Robert J.
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2026
Schlagworte:	Materials Science Applied Physics
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