Sistermans, T. T. C., Godiksen, R. H., Elrafei, S. A., & Curto, A. G. (2026). Fluctuation imaging of disorder in monolayer semiconductors.
Style de citation Chicago (17e éd.)Sistermans, Tom T. C., Rasmus H. Godiksen, Sara A. Elrafei, et Alberto G. Curto. Fluctuation Imaging of Disorder in Monolayer Semiconductors. 2026.
Style de citation MLA (9e éd.)Sistermans, Tom T. C., et al. Fluctuation Imaging of Disorder in Monolayer Semiconductors. 2026.
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