Fluctuation imaging of disorder in monolayer semiconductors

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Sistermans, Tom T. C., Godiksen, Rasmus H., Elrafei, Sara A., Curto, Alberto G.
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2026
Schlagworte:	Optics Mesoscale and Nanoscale Physics Materials Science
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