Commissioning of a fast fine-step electron-energy-scan system for electron-ion crossed-beams experiments

Fuente: arXiv
Gespeichert in:
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Hauptverfasser: Döhring, B. Michel, Borovik Jr., Alexander, Huber, Kurt, Müller, Alfred, Schippers, Stefan
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2026
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