High-resolution resonant inelastic X-ray scattering study of W-L3 edge in WSi2

Fuente: arXiv
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Autori principali: Zhao, Zheqian, Wang, Shuxing, Wang, Xiyuan, Su, Yang, Ma, Ziru, Huang, Xinchao, Zhu, Linfan
Natura: Preprint
Pubblicazione: 2026
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