Robust Parametric Microgrid Dispatch Under Endogenous Uncertainty of Operation- and Temperature-Dependent Battery Degradation

Fuente: arXiv
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Hauptverfasser: Xie, Rui, Wang, Jun, Duan, Jiaxu, Ma, Chao, Liu, Yunhui, Chen, Yue
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2026
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