Imaging the high-frequency charging dynamics of a single impurity in a semiconductor on the atomic scale

Fuente: arXiv
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Hauptverfasser: Larrazabal, Maialen Ortego, Niu, Jiasen, McMillan, Stephen R., Koenraad, Paul M., Flatté, Michael E., Allan, Milan P., Swart, Ingmar
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2026
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