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Imaging the high-frequency charging dynamics of a single impurity in a semiconductor on the atomic scale

Fuente: arXiv

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Hauptverfasser:	Larrazabal, Maialen Ortego, Niu, Jiasen, McMillan, Stephen R., Koenraad, Paul M., Flatté, Michael E., Allan, Milan P., Swart, Ingmar
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2026
Schlagworte:	Mesoscale and Nanoscale Physics Materials Science
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