Investigating Lipkin-Meshkov-Glick Model and Criticality-Enhanced Metrology in a Coherent Ising Machine

Fuente: arXiv
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Hauptverfasser: Ma, Shuang-Quan, Jin, Jing-Yi-Ran, Fan, Chen-Rui, Wang, Chuan, Ai, Qing
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2026
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