Ab Initio Transfer Length Method Simulations of Tunneling Limits in 2D Semiconductors

Fuente: arXiv
Salvato in:
Dettagli Bibliografici
Autori principali: Kim, Tae Hyung, Lee, Juho, Kim, Yong-Hoon
Natura: Preprint
Pubblicazione: 2026
Soggetti:
Accesso online:
Tags: Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!