Xie, Y., Lei, M., Dong, W., & Shi, M. (2026). Optical Chopping Enhanced Rydberg-Atom-Based Ultra-Low-Frequency Electric Field Measurement.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Xie, Yipeng, Mingwei Lei, Wenbo Dong, und Meng Shi. Optical Chopping Enhanced Rydberg-Atom-Based Ultra-Low-Frequency Electric Field Measurement. 2026.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Xie, Yipeng, et al. Optical Chopping Enhanced Rydberg-Atom-Based Ultra-Low-Frequency Electric Field Measurement. 2026.
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