SAMSEM -- A Generic and Scalable Approach for IC Metal Line Segmentation

Fuente: arXiv

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Gehrmann, Christian, Ricker, Jonas, Damm, Simon, Cheng, Deruo, Speith, Julian, Shi, Yiqiong, Fischer, Asja, Paar, Christof
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2026
Schlagworte:	Cryptography and Security Computer Vision and Pattern Recognition
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