SAMSEM -- A Generic and Scalable Approach for IC Metal Line Segmentation

Fuente: arXiv
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Autori principali: Gehrmann, Christian, Ricker, Jonas, Damm, Simon, Cheng, Deruo, Speith, Julian, Shi, Yiqiong, Fischer, Asja, Paar, Christof
Natura: Preprint
Pubblicazione: 2026
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