Simulating the influence of stoichiometry on the spectral emissivity of Mo$_x$Si$_y$ thin films

Fuente: arXiv

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Golsanamlou, Zahra, Baskakov, Arseniy, van de Kruijs, Robbert, Houweling, Silvester, Colombi, Giorgio, Ackermann, Marcelo, Bokdam, Menno
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2026
Schlagworte:	Materials Science
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https://arxiv.org/abs/2603.17801