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Stability of Charge Collection Efficiency and Time Resolution in 4H-SiC PIN Diodes Under X-ray Irradiation

Fuente: arXiv

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Hauptverfasser:	Zhou, Jiaqi, Zhao, Sen, Zhang, Xiyuan, Xiao, Suyu, Fu, Chenxi, Wang, Congcong, Li, Yanpeng, Song, Weimin, Shi, Xin
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2026
Schlagworte:	Instrumentation and Detectors
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