Probing Electromigration of Oxygen Vacancies in YBa$_2$Cu$_3$O$_{7-δ}$ Devices by Multimodal X-ray Techniques

Fuente: arXiv
Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autores principales: Quaglio-Gomes, Caio C., Marinković, Stefan, Abbey, Elijah A., Chaves, Davi A. D., Palau, Anna, Silhanek, Alejandro V., Schio, Pedro, Motta, Maycon
Formato: Preprint
Publicado: 2026
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