Revealing Charge Transfer in Defect-Engineered 4H$_\mathrm{b}$-TaS$_2$

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Karbasizadeh, Siavash, Yang, Wooin, Ko, Wonhee, Zhou, Haidong, Li, An-Ping, Berlijn, Tom, Mu, Sai
Formato:	Preprint
Publicado:	2026
Materias:	Materials Science
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

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