The ground state of CuInP$_2$S$_6$ thin films: A study of the deep potential method

Fuente: arXiv

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Li, Shengxian, Yuan, Jiaren, Ouyang, Tao, Pan, Anlian, Chen, Mingxing
Format:	Preprint
Publié:	2026
Sujets:	Materials Science
Accès en ligne:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2603.24901