Grain boundary defects induced Tc increment in MnSi

Fuente: arXiv

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Benedit-Cardenas, Adrian, Fox, Tobias, Bruyère, Stéphanie, Pauly, Christoph, Soldera, Flavio, Migot, Sylvie, Mücklich, Frank, Horwat, David, Nominé, Alexandre
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2026
Schlagworte:	Materials Science
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