Discovering Failure Modes in Vision-Language Models using RL

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Jain, Kanishk, Yang, Qian, Nayak, Shravan, Kordjamshidi, Parisa, Anand, Nishanth, Agrawal, Aishwarya
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2026
Schlagworte:	Computer Vision and Pattern Recognition Artificial Intelligence
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https://arxiv.org/abs/2604.04733