Conformal Margin Risk Minimization: An Envelope Framework for Robust Learning under Label Noise

Fuente: arXiv
Gespeichert in:
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Hauptverfasser: Shi, Yuanjie, Li, Peihong, Zhang, Zijian, Doppa, Janardhan Rao, Yan, Yan
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2026
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