Conformal Margin Risk Minimization: An Envelope Framework for Robust Learning under Label Noise

Fuente: arXiv
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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Shi, Yuanjie, Li, Peihong, Zhang, Zijian, Doppa, Janardhan Rao, Yan, Yan
Formato: Preprint
Publicado: 2026
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