ExplainFuzz: Explainable and Constraint-Conditioned Test Generation with Probabilistic Circuits

Fuente: arXiv

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Baiget, Annaëlle, Maene, Jaron, Lee, Seongmin, Wang, Benjie, Broeck, Guy Van den, Kim, Miryung
Format:	Preprint
Publié:	2026
Sujets:	Software Engineering Machine Learning
Accès en ligne:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2604.06559