UV-enhanced SEM: towards orientation and electron work function imaging

Fuente: arXiv

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Kretkowski, Maciej, Mu, Haoran, Huang, Hsin-Hui, Khakurel, Krishna Prasad, Ikhsan, Lukita Sari, Masuda, Yu, Juodkazis, Saulius, Inami, Wataru, Kawata, Yoshimasa
Format:	Preprint
Publié:	2026
Sujets:	Optics
Accès en ligne:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2604.06634