Characterization of rf field-induced a.c. Zeeman shift in multi-level highly charged ions

Fuente: arXiv
Enregistré dans:
Détails bibliographiques
Auteurs principaux: Chen, Shuying, Spieß, Lukas J., Wilzewski, Alexander, Wehrheim, Malte, López-Urrutia, José R. Crespo, Schmidt, Piet O.
Format: Preprint
Publié: 2026
Sujets:
Accès en ligne:
Tags: Ajouter un tag
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!