Cost-optimal Sequential Testing via Doubly Robust Q-learning

Fuente: arXiv

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Zhou, Doudou, Zhang, Yiran, Jin, Dian, Zheng, Yingye, Tian, Lu, Cai, Tianxi
Format:	Preprint
Publié:	2026
Sujets:	Machine Learning Artificial Intelligence Statistics Theory
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https://arxiv.org/abs/2604.11165