Autonomous Diffractometry Enabled by Visual Reinforcement Learning

Fuente: arXiv

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Oppliger, J., Stifter, M., Rüegg, A., Biało, I., Martinelli, L., Freeman, P. G., Prabhakaran, D., Zhao, J., Wang, Q., Chang, J.
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2026
Schlagworte:	Machine Learning Materials Science Computer Vision and Pattern Recognition
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https://arxiv.org/abs/2604.11773