Direct Orientation Contrast Imaging of Anti-Phase Domains on III-V Materials Using Scanning Electron Microscopy

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Corre, Brieg Le, Grenèche, Clothilde, Bernard, Rozenn, Rohel, Tony, Létoublon, Antoine, Khelifi, Wijden, Pouliquen, Julie Le, Grisard, Arnaud, Combrié, Sylvain, Gérard, Bruno, Harouri, Abdelmounaim, Gratiet, Luc Le, Beaudoin, Grégoire, Pantzas, Konstantinos, Sagnes, Isabelle, Skibitzki, Oliver, Patriarche, Gilles, Cornet, Charles, Léger, Yoan
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2026
Schlagworte:	Materials Science Applied Physics
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https://arxiv.org/abs/2604.15812