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Direct Orientation Contrast Imaging of Anti-Phase Domains on III-V Materials Using Scanning Electron Microscopy

Fuente: arXiv
Salvato in:
Dettagli Bibliografici
Autori principali: Corre, Brieg Le, Grenèche, Clothilde, Bernard, Rozenn, Rohel, Tony, Létoublon, Antoine, Khelifi, Wijden, Pouliquen, Julie Le, Grisard, Arnaud, Combrié, Sylvain, Gérard, Bruno, Harouri, Abdelmounaim, Gratiet, Luc Le, Beaudoin, Grégoire, Pantzas, Konstantinos, Sagnes, Isabelle, Skibitzki, Oliver, Patriarche, Gilles, Cornet, Charles, Léger, Yoan
Natura: Preprint
Pubblicazione: 2026
Soggetti:
Materials Science
Applied Physics
Accesso online:
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