Identification and Structural Characterization of Twisted Atomically Thin Bilayer Materials by Deep Learning

Fuente: arXiv
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Yang, Haitao, Hu, Ruiqi, Wu, Heng, He, Xiaolong, Zhou, Yan, Xue, Yizhe, He, Kexin, Hu, Wenshuai, Chen, Haosen, Gong, Mingming, Zhang, Xin, Tan, Ping-Heng, Hernández, Eduardo R, Xie, Yong
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2026
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