Automated Palynological Analysis System: Integrating Deep Metric Learning and $U^{2}$-Net Detection in $H\infty$ bright field microscopy

Fuente: arXiv

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Staforelli-Vivanco, J., Jofré, R., Muñoz, B., Salamanca, V., Coelho, P., Sanhueza, I., Viafora, L., Toro, C., Troncoso, J., Rondanelli-Reyes, M., Lamas, I.
Format:	Preprint
Publié:	2026
Sujets:	Computer Vision and Pattern Recognition Optics
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https://arxiv.org/abs/2604.16743