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Experimental Signatures of Topological Transport in Polycrystalline FeSi Thin Films

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Mantovan, R., Bozhko, A., Zhurkin, V., Bogach, A., Khanas, A., Zarubin, S., Zenkevich, A., Glushkov, V.
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2026
Schlagworte:	Strongly Correlated Electrons Materials Science
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