Improving LLM-Driven Test Generation by Learning from Mocking Information

Fuente: arXiv
Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autores principales: Lee, Jamie, Teh, Flynn, Zhu, Hengcheng, Li, Mengzhen, Fazzini, Mattia, Terragni, Valerio
Formato: Preprint
Publicado: 2026
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