Drift Correction of Scan Images by Snapshot Referencing
Fuente:
arXiv
Salvato in:
| Autori principali: | Thollar, Zac, Maeda, Kanto, Kubota, Tetsuya, Yano, Taka-aki, Tan, Qiwen, Sannomiya, Takumi |
|---|---|
| Natura: | Preprint |
| Pubblicazione: |
2026
|
| Soggetti: | |
| Accesso online: | |
| Tags: |
Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!
|
Documenti analoghi
Redundant Cross-Correlation for Drift Correction in SEM Nanoparticle Imaging
di: Montenegro, Iago Bischoff, et al.
Pubblicazione: (2024)
di: Montenegro, Iago Bischoff, et al.
Pubblicazione: (2024)
BEACON -- Automated Aberration Correction for Scanning Transmission Electron Microscopy using Bayesian Optimization
di: Pattison, Alexander J., et al.
Pubblicazione: (2024)
di: Pattison, Alexander J., et al.
Pubblicazione: (2024)
Noise2Void for Denoising Atomic Resolution Scanning Transmission Electron Microscopy Images
di: Thornley, William, et al.
Pubblicazione: (2026)
di: Thornley, William, et al.
Pubblicazione: (2026)
High Dynamic Range Scanning Tunneling Microscopy
di: Karić, Ajla, et al.
Pubblicazione: (2024)
di: Karić, Ajla, et al.
Pubblicazione: (2024)
Comparison of Kikuchi Diffraction Geometries in Scanning Electron Microscope
di: Zhang, Tianbi, et al.
Pubblicazione: (2024)
di: Zhang, Tianbi, et al.
Pubblicazione: (2024)
Scanning Transmission Electron Microscopy of Oxide Interfaces and Heterostructures
di: Spurgeon, Steven R.
Pubblicazione: (2020)
di: Spurgeon, Steven R.
Pubblicazione: (2020)
Scanning Thermal Microscopy in Air and Vacuum: A Comparison
di: McClelland, Jabez J., et al.
Pubblicazione: (2024)
di: McClelland, Jabez J., et al.
Pubblicazione: (2024)
Compressive multi-beam scanning transmission electron microscopy
di: Yasuhara, Akira, et al.
Pubblicazione: (2025)
di: Yasuhara, Akira, et al.
Pubblicazione: (2025)
Electron Recoil via Sample Momentum Transfer under Optical-Mode Excitation
di: Yasuhara, Akira, et al.
Pubblicazione: (2025)
di: Yasuhara, Akira, et al.
Pubblicazione: (2025)
From Coated to Uncoated: Scanning Electron Microscopy Corrections to Estimate True Surface Pore Size in Nanoporous Membranes
di: Danalou, Sima Zeinali, et al.
Pubblicazione: (2025)
di: Danalou, Sima Zeinali, et al.
Pubblicazione: (2025)
Electron Energy Loss Spectroscopy of 2D Materials in a Scanning Electron Microscope
di: Simonaitis, John W., et al.
Pubblicazione: (2024)
di: Simonaitis, John W., et al.
Pubblicazione: (2024)
Emittance Minimization for Aberration Correction II: Physics-informed Bayesian Optimization of an Electron Microscope
di: Ma, Desheng, et al.
Pubblicazione: (2024)
di: Ma, Desheng, et al.
Pubblicazione: (2024)
Emittance Minimization for Aberration Correction I: Aberration correction of an electron microscope without knowing the aberration coefficients
di: Ma, Desheng, et al.
Pubblicazione: (2024)
di: Ma, Desheng, et al.
Pubblicazione: (2024)
Resistivity measurement for non-magnetic materials using high-order resonance mode of mfm-cantilever oscillation
di: Okamoto, Kazuma, et al.
Pubblicazione: (2025)
di: Okamoto, Kazuma, et al.
Pubblicazione: (2025)
A Transformer-based Model for Rapid Microstructure Inference from Four-Dimensional Scanning Transmission Electron Microscopy Data
di: Je, Kwanghwi, et al.
Pubblicazione: (2026)
di: Je, Kwanghwi, et al.
Pubblicazione: (2026)
X-ray detected ferromagnetic resonance spectrometer with an out-of-vacuum photodetector
di: Ueno, Tetsuro, et al.
Pubblicazione: (2025)
di: Ueno, Tetsuro, et al.
Pubblicazione: (2025)
Implementing dynamic high-performance computing supported workflows on Scanning Transmission Electron Microscope
di: Pratiush, Utkarsh, et al.
Pubblicazione: (2024)
di: Pratiush, Utkarsh, et al.
Pubblicazione: (2024)
Point-Spread Function of the Optics in Scanning Electron Microscopes
di: Kamal, Surya, et al.
Pubblicazione: (2024)
di: Kamal, Surya, et al.
Pubblicazione: (2024)
Scanning Reflectance Anisotropy Microscopy for Multi-Material Strain Mapping
di: Sendra, Joan, et al.
Pubblicazione: (2023)
di: Sendra, Joan, et al.
Pubblicazione: (2023)
Multiscale Microscopy via Automation: Dual Magnification ESEM Imaging by Frame Alternation
di: Vuijk, Maurits, et al.
Pubblicazione: (2025)
di: Vuijk, Maurits, et al.
Pubblicazione: (2025)
SPARSE -- Efficient High-Resolution SEM Imaging of Rare Microstructural Features Across Large Areas by Selective Rescanning
di: Reclik, Tom, et al.
Pubblicazione: (2026)
di: Reclik, Tom, et al.
Pubblicazione: (2026)
Revealing Information from Weak Signal in Electron Energy-Loss Spectroscopy with a Deep Denoiser
di: Wang, Yifan, et al.
Pubblicazione: (2025)
di: Wang, Yifan, et al.
Pubblicazione: (2025)
AstroECP: towards more practical Electron Channeling Contrast Imaging
di: Qaiser, M. Haroon, et al.
Pubblicazione: (2025)
di: Qaiser, M. Haroon, et al.
Pubblicazione: (2025)
afspm: A Framework for Manufacturer-Agnostic Automation in Scanning Probe Microscopy
di: Sullivan, Nicholas J., et al.
Pubblicazione: (2025)
di: Sullivan, Nicholas J., et al.
Pubblicazione: (2025)
Mic-hackathon 2024: Hackathon on Machine Learning for Electron and Scanning Probe Microscopy
di: Pratiush, Utkarsh, et al.
Pubblicazione: (2025)
di: Pratiush, Utkarsh, et al.
Pubblicazione: (2025)
Multispectral UV Imaging on Capacitive CMOS Arrays Enabled by Solution-Processed Metal-Oxide Nanoparticles
di: Kundu, Suman, et al.
Pubblicazione: (2026)
di: Kundu, Suman, et al.
Pubblicazione: (2026)
Imaging 3D Printed Fracture Networks under Stress using X-Ray Computed Tomography
di: Dimou, A. Patsoukis, et al.
Pubblicazione: (2025)
di: Dimou, A. Patsoukis, et al.
Pubblicazione: (2025)
Computing virtual dark-field X-ray microscopy images of complex discrete dislocation structures from large-scale molecular dynamics simulations
di: Wang, Yifan, et al.
Pubblicazione: (2024)
di: Wang, Yifan, et al.
Pubblicazione: (2024)
Quantitative Fiber Orientation Analysis of Carbon Fiber Sheet Molding Compounds using Polarization Imaging and X-Ray Computed Tomography
di: Duhovic, Miro, et al.
Pubblicazione: (2024)
di: Duhovic, Miro, et al.
Pubblicazione: (2024)
Capacitively Coupled GaAs p-i-n/Substrate Photodetector with Ohmic Contacts on Lightly Doped n-GaAs for Hard X-Ray Imaging
di: Harutyunyan, V. G., et al.
Pubblicazione: (2026)
di: Harutyunyan, V. G., et al.
Pubblicazione: (2026)
Investigating the convergence properties of iterative ptychography for atomic-resolution low-dose imaging
di: Chennit, Tamazouzt, et al.
Pubblicazione: (2025)
di: Chennit, Tamazouzt, et al.
Pubblicazione: (2025)
Multi-Mode Lens for Momentum Microscopy and XPEEM: Theory
di: Tkach, Olena, et al.
Pubblicazione: (2024)
di: Tkach, Olena, et al.
Pubblicazione: (2024)
Real-time, noise and drift resilient formaldehyde sensing at room temperature with aerogel filaments
di: Chen, Zhuo, et al.
Pubblicazione: (2023)
di: Chen, Zhuo, et al.
Pubblicazione: (2023)
Nano-electronvolt Fourier-limited transition of a single surface-adsorbed molecule
di: Mirzaei, Masoud, et al.
Pubblicazione: (2025)
di: Mirzaei, Masoud, et al.
Pubblicazione: (2025)
Bromine-methanol etching of semiconductor crystals $Cd_{1-x}Zn_{x}Te_{1-y}Se_{y}$ with different selenium concentrations
di: Naydenov, S. V., et al.
Pubblicazione: (2025)
di: Naydenov, S. V., et al.
Pubblicazione: (2025)
A solid-state high harmonic generation spectrometer with cryogenic cooling
di: Kohrell, Finn, et al.
Pubblicazione: (2023)
di: Kohrell, Finn, et al.
Pubblicazione: (2023)
Observation of a phase transition in KTaO$_3$ induced by residual niobium impurities
di: Zhao, Zijun C., et al.
Pubblicazione: (2025)
di: Zhao, Zijun C., et al.
Pubblicazione: (2025)
UV hybrid photon detector based on GaN photocathodes and Si low gain avalanche diode
di: Boukhicha, Mohamed, et al.
Pubblicazione: (2024)
di: Boukhicha, Mohamed, et al.
Pubblicazione: (2024)
Particulate analysis of post-thermal runaway soot of Li-ion battery using X-ray computed tomography
di: Singh, Avtar, et al.
Pubblicazione: (2026)
di: Singh, Avtar, et al.
Pubblicazione: (2026)
Toward thermoelectric characterization of (nano)materials by in situ transmission electron microscopy
di: Hettler, Simon, et al.
Pubblicazione: (2024)
di: Hettler, Simon, et al.
Pubblicazione: (2024)
Documenti analoghi
-
Redundant Cross-Correlation for Drift Correction in SEM Nanoparticle Imaging
di: Montenegro, Iago Bischoff, et al.
Pubblicazione: (2024) -
BEACON -- Automated Aberration Correction for Scanning Transmission Electron Microscopy using Bayesian Optimization
di: Pattison, Alexander J., et al.
Pubblicazione: (2024) -
Noise2Void for Denoising Atomic Resolution Scanning Transmission Electron Microscopy Images
di: Thornley, William, et al.
Pubblicazione: (2026) -
High Dynamic Range Scanning Tunneling Microscopy
di: Karić, Ajla, et al.
Pubblicazione: (2024) -
Comparison of Kikuchi Diffraction Geometries in Scanning Electron Microscope
di: Zhang, Tianbi, et al.
Pubblicazione: (2024)