Structural evolution of Ti/Cu multilayers as a function of period thickness

Fuente: arXiv
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Hauptverfasser: Sakhonenkov, Sergei S., Gaisin, Aidar U., Petrova, Anita O., Matveev, Vasilii A., Filatova, Elena O.
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2026
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