PatRe: A Full-Stage Office Action and Rebuttal Generation Benchmark for Patent Examination

Fuente: arXiv
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Hauptverfasser: Wang, Qiyao, Chen, Xinyi, Chen, Longze, Wang, Hongbo, Alinejad-Rokny, Hamid, Lin, Yuan, Yang, Min
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2026
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