Unraveling the Defect Physics of SiC Micropipe Sidewalls by Non-Line-of-Sight Confocal Spectromicroscopy: Amphoteric Giant Traps

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Kurniawan, Irwan Saleh, Sevilla, Russel Cruz, Soebroto, Ruth Jeane, Huang, Hsiu-Ying, Hsu, Hsiu-Ming, Shen, Ji-Lin, Chang, Sheng Hsiung, Li, Wen-Chung, Yuan, Chi-Tsu
Formato:	Preprint
Publicado:	2026
Materias:	Optics Materials Science
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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Internet

https://arxiv.org/abs/2605.04865