Real-IAD MVN: A Multi-View Normal Vector Dataset and Benchmark for High-Fidelity Industrial Anomaly Detection

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Zhu, Wenbing, Liang, Jianing, Cheng, Linjie, Pan, Yurui, Chen, Zhuhao, Yan, Qingwang, Cheng, Yudong, Zhang, Jianghui, Chi, Mingmin, Peng, Bo
Formato:	Preprint
Publicado:	2026
Materias:	Computer Vision and Pattern Recognition
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Internet

https://arxiv.org/abs/2605.07149