PaT: Planning-after-Trial for Efficient Test-Time Code Generation

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Yoon, Youngsik, Lee, Sungjae, Song, Seockbean, Wang, Siwei, Chen, Wei, Ok, Jungseul
Formato:	Preprint
Publicado:	2026
Materias:	Computation and Language Machine Learning
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Internet

https://arxiv.org/abs/2605.07248